RT70V探针法测量仪
产品型号: RT70V系列
产品特点: RT70V探针法测量仪
它是测量仪（RT-70V）和测量台的组合测量仪。

RT70V探针法测量仪 的详细介绍
RT70V探针法测量仪
测量仪：RT-70V>
使用JOG拨盘，厚度，温度，PN输入（RT-70V测试仪），易于操作
自检功能，自动量程切换，4种测量模式
具有厚度/温度补偿功能（用于硅）
<测量阶段>
*根据目的和用途，可以从以下选择测量阶段。
（1）RG-7C  [产品图片左上]：电机自动上下探针台
（2）RG-5   [产品图像左下方] ：带手动手柄的探针上下平台
（3）RG-7S [产品图片右上]：用于玻璃基板/薄膜样品的XY工作台 
（4）TS-7D [产品图像右下] ：便捷的探头类型*平台板是可选的。
测量规格
测量目标
与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
新材料/功能材料（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）
导电薄膜相关（金属，ITO等）
扩散样本
硅基外延离子注入样品
其他（*请与我们联系）
测量尺寸
*组合测量取决于舞台类型。
圆形：〜300mm（12英寸），方形：〜730x920mm，可广泛使用。
测量范围
［电阻（电阻率）］1μ〜300kΩ・ cm 
［板电阻］ 5m〜10MΩ/ sq
测量仪：RT-70V>
使用JOG拨盘，厚度，温度，PN输入（RT-70V测试仪），易于操作
自检功能，自动量程切换，4种测量模式
具有厚度/温度补偿功能（用于硅）
<测量阶段>
*根据目的和用途，可以从以下选择测量阶段。
（1）RG-7C  [产品图片左上]：电机自动上下探针台
（2）RG-5   [产品图像左下方] ：带手动手柄的探针上下平台
（3）RG-7S [产品图片右上]：用于玻璃基板/薄膜样品的XY工作台 
（4）TS-7D [产品图像右下] ：便捷的探头类型*平台板是可选的。
测量规格
测量目标
与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
新材料/功能材料（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）
导电薄膜相关（金属，ITO等）
扩散样本
硅基外延离子注入样品
其他（*请与我们联系）
测量尺寸
*组合测量取决于舞台类型。
圆形：〜300mm（12英寸），方形：〜730x920mm，可广泛使用。
测量范围
［电阻（电阻率）］1μ〜300kΩ・ cm 
［板电阻］ 5m〜10MΩ/ sq