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AE-1152D_11C超低电阻测试仪

作者:admina来源:时间:2021-01-05 11:00:50浏览量:218人阅读

   AE-1152D_11C超低电阻测试仪
产品型号: AE-1152D_11C
产品特点: 超低电阻测试仪
自动测量超低电阻的醉佳选择
配备BIN功能,判断结果可以分为11类

日本ae-mic超低电阻测试仪 的详细介绍
日本ae-mic超低电阻测试仪
非常适合分流电阻器等的超低电阻测量。
取消对热电效应的测量
脉冲测量电流,以减少测量端子的自热和磨损
接触检查功能标准设备
绝对测量:0.0000mΩ〜1.5000kΩ
%测量值:0.1mΩ〜1kΩ/±50.00%[最小分辨率10nΩ]
GP-IB / RS-232C / Centronics接口(可选)
配备BIN功能[BIN1至BIN9] (最多可以分类11个),集电极开路输出,LED显示和蜂鸣器声音
测量电流/测量电压异常检查电路的标准设备
移位输出可能
测量范围和基本精度(环境温度23°C±5°C)
测量范围测量范围解析度实测电流测量精度
1毫欧 0.0000mΩ〜1.5000mΩ 0.1微欧 3A ±(0.01 Pasento RDG Tasu 1Myuomega)
±3Digit [平均] 
±4位数[SLOW] 
±5digit [快]
内 
10毫欧 0.000mΩ至15.000mΩ 1微欧 1A 
100毫欧 0.00mΩ至150.00mΩ 10微欧 
1Ω 0.0000Ω〜1.5000Ω 100微欧 100毫安 
10Ω 0.000Ω至15.000Ω 1毫欧 
100Ω 0.00Ω至150.00Ω 10毫欧 10毫安 
1KΩ 0.0000kΩ至1.5,000kΩ 100毫欧 1毫安 
% 0.1mΩ〜1kΩ/±50.00% 0.01%[10nΩ] 看上面 参考规格 
测量端子开路电压5V以下 
测量方式4端子测量[可进行接触检查] 
采样时间[自由运行] 2至10次/秒 
[外部启动]大约9毫秒-400毫秒。 
比较器设定范围上限和下限均为[0至15000],
%范围:低0至-50%,高0至+ 50% 
比较器判断结果显示[BIN1至BIN9]显示和蜂鸣器 
控制信号测量开始信号:以“ L” [0V]→“ H” [DC12V]开始 
保持信号:断开,“ H” [DC12V]:自由运行,“ L” [0V]:保持 
判断结果信号[LO / GO(BIN1至BIN9)/ H1] 
:集电极开路输出max40V,100mA 
接触错误[CONT-E]:
集电极开路输出最大40V,100mA 
测量结束信号[EOC]:集电极开路输出最大40V,100mA 
周边环境温度:5℃〜+ 40℃湿度:85%以下 
需要电源AC85V-265V,50-60HZ,约60VA 
外形尺寸333(W)x 99(H)x 300(D)mm(不包括橡胶脚等突起) 
重量约3kg 
选项・ RS-232C 这些选项中 只有
一个
可以内置。 
・ GP-IB 
・打印机输出(Centronics) 
・打印机电缆 
・短接(零欧姆标准电阻) 


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