AE-162D超高速芯片电阻测试仪
产品特点: 日本ae-mic超高速芯片电阻测试仪
适用
于 D，F，G，J，K类，切屑，熔体，径向和轴向电阻器的分拣和编带机

日本ae-mic超高速芯片电阻测试仪 的详细介绍
日本ae-mic超高速芯片电阻测试仪
模拟到数字隔离，提高了抗噪声能力，具有很高的稳定性
与极小的芯片兼容（低功率测量）
超高速0.7毫秒（代表值）
通过静态功率抵消测量实现高精度和高稳定性
通过对每个范围进行测量值积分时间设置功能，实现超高速和高稳定性测量
％测量：±99.99％[5mΩ-109MΩ]
绝对测量：0.00mΩ〜200.00MΩ
接触检查：测量前/测量后/ OFF
RS-232C接口标准设备（GP-IB是可选的）
打印机输出标准设备（与Centronics兼容）
设置值传送功能作为标准设备：（相同的设置数据可以传送到另一台AE-162D并自动设置）
测量电流/测量电压异常检查电路的标准设备
校准后180天[校准后1年：1.5倍]的测量范围和基本精度（环境温度23°C±5°C）
测量范围标准值设定范围实测电流测量精度*
慢快速
100毫欧 5mΩ-100mΩ 100毫安 ≤±0.02％±2a±2d ≤±0.03％±3a±2d±[2 /（1 + n）] d 
1Ω 100.1mΩ〜1Ω 100毫安 在±0.02％±a±1d之内 ≤±0.02％±a±2d±[2 /（1 + n）] d 
10Ω 1.001Ω〜10Ω 50毫安 
100Ω 10.01Ω-100Ω 10毫安 ±0.02％±1d以内 在±0.02％±2d±[1 /（1 + n）] d之内 
1kΩ 100.1Ω〜1kΩ 5毫安 
10kΩ的 1.001kΩ〜10kΩ 0.5毫安 
100kΩ的 10.01kΩ-100kΩ 50微安 
1兆欧 100.1kΩ〜1MΩ 5微安 在±0.05％±2d±[1 /（1 + n）] d之内 
10兆欧 1.001MΩ〜10MΩ 0.5微安 ±0.03％±1d以内 在±0.2％±4d±[1 /（1 + n）] d之内 
100兆欧 10.01MΩ〜109MΩ 0.05微安 ±0.1％±2d以内 ─── 
* D =数字，n =积分时间（毫秒），％测量：α=（100 /标准设定值mΩ）x 0.01％，绝对值测量：α= 0（加±1d）
*完整屏蔽状态下的精度
测量时间外部启动自由奔跑
慢 快速 慢 快速 
大约18毫秒-400毫秒 大约0.7毫秒-400毫秒 约30次/秒〜
约2次/秒 约60次/秒〜
约2次/秒 
测量端子开路电压15V以下 
测量结束信号（EOC）脉冲宽度1到250毫秒，并且可以连续设置 
测量方式4端子测量/ 2端子测量可切换 
判断值设定范围％测量：±99.99％，绝对值测量：00000-20000 
周边环境温度：0°C至+ 50°C，湿度：80％以下 
需要电源AC85V〜265V，50Hz〜60Hz，约50VA 
外形尺寸333（w）x 99（H）x 300（D）mm（不包括橡胶脚等突起） 
重量约3.5kg 
选项・ GP-IB 
・数据传输线 
・短接（零欧姆标准电阻） 
・转换适配器（3P x2⇒5P）