AE-1644E超高电阻测试仪
产品型号: AE-1644E
产品特点: 日本ae-mic超高电阻测试仪
适用于 安装10kΩ〜1TΩ芯片，Melf，轴向型
超高电阻机器分选机，激光和切割机
修整机

日本ae-mic超高电阻测试仪 的详细介绍
日本ae-mic超高电阻测试仪
高速积分方法，噪声误差小（可以为每个范围设置积分时间）
参考电阻值4位数字设置允许百分测量（±50.00％）
可能的修整模式
比较器判断结果可以是集电极开路输出，LED显示和蜂鸣器声音
可以联系检查
RS-232C接口标准设备（GP-IB /中央电子输出是可选的）
内置换档螺线管电源（可选）[DC12V（2A）/ 24V（1A）/脉冲输出（2A）]
测量范围和基本精度（环境温度23°C±5°C）
测量范围测量范围测量精度
测量电压H测量电压L
100kΩ的 5.00kΩ至150.00kΩ 15伏 ±0.03％±1位数[读数的±0.1％±1位数] 15伏 ±0.03％±1位数[读数的±0.1％±1位数] 
1兆欧 50.0kΩ〜1500.0kΩ 
10兆欧 0.500MΩ至15.000MΩ 
100兆欧 5.00MΩ至150.00MΩ 100伏 ±0.05％±1位数[读数的±0.2％±1位数] 15伏 ±0.3％±1位数[读数的±1.2％±1位数] 
1GΩ 50.0MkΩ至1500.0MΩ 
10GΩ 0.500GΩ至15.000GΩ 100伏 ±0.2％±1位数[读数的±0.5％±1位数] 15伏 ±1.2％±2位数[读数的±1.5％±1位数] 
100GΩ 5.00GΩ至150.00GΩ 200伏 ±0.5％±2位数[读数的±0.8％±2位数] 15伏 ±1.5％±2位数[读数的±2.0％±2位数] 
1兆欧 50.00GΩ〜1500.0GΩ 200伏 ±0.1％±4位数字[读数的±1.5％±4位数字] 无法选择 
测量值显示范围测量值的％：±50.00％ 
OHM测量：500〜15000 
测量方式恒压测量[可以通过2端子测量进行接触检查] 
测量时间（将被测物体连接到测量端子后，经过足够的稳定时间后输入启动信号） 
[外部启动整合时间] 
[FAST] 1〜29毫秒（可以1毫秒为单位设置。 
[SLOW] PLC50Hz：20.0毫秒×（1〜9）周期（可以1周期为单位设置）最大180毫秒。 
PLC60Hz：16.7毫秒×（1〜9）周期（可以1周期为单位设置）最大150.3毫秒。 
[自由运行]：大约3次/秒至20次/秒 
比较器设定范围％测量：HI和LO均为±50.00％OHM测量：HI和LO均为500至15000 
控制信号测量开始信号：以“ L” [0V]→“ H” [DC12V]开始 
保持信号：断开，“ H” [DC12V]：自由运行，“ L” [0V]：保持 
判断结果信号：[LO / GO / HI]，测量结束信号[EOC]集电极开路输出最大40V 100mA 
周边环境温度：5℃〜+ 40℃湿度：85％以下 
需要电源AC85V-265V，50-60Hz，约20VA 
外形尺寸333（W）x 99（H）x 300（D）mm（不包括橡胶脚等突起） 
重量约2.5公斤 
标准支持CE标记 
选项・ GP-IB 这些选项中
只有一个可以内置。